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德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪，它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析。
德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品简介：
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
XDL230 有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器，比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了FISCHER完全基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品应用：
测量大规模生产的电镀部件
测量超薄镀层，例如：装饰铬
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
测量印刷线路板
分析电镀溶液
德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪技术参数：
通用规格 | |
设计用途 | 能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪（EDXPF）， 用于测定超薄镀层和溶液分析。 |
元素范围 | 从元素氯（17）到铀（92） |
配有可选的WinFTM®BASIC软件时，多时可同时测定24种元素 | |
设计理念 | 台式仪器，测量门向上开启 |
测量方向 | 由上往下 |
X射线源 | |
X射线管 | 带铍窗口的钨管 |
高压 | 三档：30KV，40KV，50KV |
孔径（准直器） | φ0.3mm 可选：φ0.1mm；φ0.2mm；长方形0.3mm x 0.05mm |
测量点尺寸 | 取决于测量距离及使用的准直器大小 |
实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致 | |
较小的测量点大小约φ0.2mm | |
X射线探测 | |
X射线接收器 | 比例接收器 |
测量距离 | 0~80mm，使用专有保护的DCM测量距离补偿法 |
样品定位 | |
视频系统 | 高分辨率CCD彩色摄像头，沿着初级X射线光束方向观察测量位置 |
手动聚焦，对被测位置进行监控 | |
十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸） | |
可调节亮度的LED照明，激光光点用于准确定位样品 | |
放大倍数 | 40x~160x |
电器参数 | |
电源要求 | 200V，50Hz |
功率 | 很大120W（不包括计算机） |
保护等级 | IP40 |
尺寸规格 | |
外部尺寸 | 宽x深x高（mm）：570x760x650 |
内部测量室尺寸 | 宽x深x高（mm）：460x495x（参考“样品较大高度”部分的说明） |
重量 | 107KG |
环境要求 | |
使用时温度 | 10℃~40℃ |
存储或运输时温度 | 0℃~50℃ |
空气相对湿度 | ≤95% 无结露 |
工作台 | |
设计 | 手动X/Y平台 |
X/Y平台较大移动范围 | 92x150mm |
可用样品放置区域 | 420x450mm |
Z轴 | 马达驱动 |
Z轴移动范围 | 140mm |
样品很大重量 | 20KG |
样品很大高度 | 140mm |
激光（1级）定位点 | 有 |
计算单元 | |
计算机 | 带扩展卡的Windows®计算机系统 |
软件 | 标准：WinFTM®V.6 LIGHT |
可选：WinFTM®V.6 BASIC，PDM，SUPER | |
执行标准 | |
CE合格标准 | EN 61010 |
型式许可 | 作为受完全保护的仪器 |
型式许可完全符合德国“Deutsche Rontgenverordnung-RoV”法规的规定 | |
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