德国FISCHER XDLM 237 X射线荧光镀层测厚材料分析仪技术参数：

1、工作台：

设计：马达驱动可编程X/Y平台

移动范围：255x 235mm

X/Y平台移动速度：≤80 mm/s

X/Y平台移动重复精度：≤0.01 mm，单向

可用样品放置区域：300 x 350mm

Z轴：可编程运行

Z轴移动范围：140mm

样品:重量5kg，降低精度可达20kg

样品:高度140mm

2、环境要求：

使用时温度：10℃- 40℃

存储或运输温度：0℃ - 50℃

空气相对湿度：≤95%,无结露

3、计算单元：

计算机：带扩展卡的计算机系统

软件：标准:WinFTM V.6 LIGHT、可选:WinFTM V.6 BASIC，PDM，SUPER

4、执行标准：

CE合格标准：EN 61010

X射线标准：DIN ISO 3497和ASTM B 568

型式批准：型式许可符合德国"Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法规规定。

5、通用规格：

设计用途：能量色散X射线荧光镀层测厚及材料分析仪(EDXRF)用来测量薄镀层和微小结构，分析合金和微量组分。

元素范围：从元素氯(17)到铀(92)，配有可选的WinFTM BASIC软件时，可同时测定24种元素。

形式设计：台式仪器，测量门向上开启

测量方向：从上到下

6、X射线探测：

X射线接收器：比例接收器

测量距离：0 ~ 80mm，使用专有保护的DCM测量距离补偿法

7、视频系统：

视频系统：

CCD彩色摄像头，沿着初级×射线光束方向观察测量位置对被测工件进行监控，可自动对焦或手动聚焦

十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸)可调节亮度的LED照明，激光光点用于定位样品

放大倍数：40x-160x

8、电气参数：

电源要求：交流220v 50Hz

功率：120W(不包括计算机)

保护等级：IP40

9、尺寸规格：

外部尺寸：宽×深×高[mm]:570 x760 x 650

内部测量室尺寸：宽×深×高[mm]: 460 x 495 x 146

重量：120kg