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日本KETT LZ-200J两用膜厚计采用电磁和涡流两种测量模式，精度达2%，测量1500μm内的磁性金属底材涂层或800μm内的非磁性金属上涂层。
日本KETT LZ-200J两用膜厚计产品简介：
LZ-200J采用电磁和涡流两种测量模式，可无损检测磁性金属上非磁性覆层厚度及非磁性金属上绝缘层厚度，内置打印机、有统计储存、连接电脑等功能，对微小厚度的涂镀层测量有较高的准确度。本产品广泛用于汽车制造、船舶制造、金属加工等各领域行业。
日本KETT LZ-200J两用膜厚计技术参数：
测定方法：电磁诱导式+涡电流式
测定对象：磁性金属上的非磁性薄膜及非磁性金属上的绝缘膜
测量范围：
电磁式：0～1500μm或60.00 mils
涡流式：0～800μm或32.00 mils
测量精度：
电磁式：<15μm±0.3μm ≥15μm±2%
涡流式：<50μm±1μm ≥50μm±2%
测试面积： 3*3mm
测试单位：公/英制
分辨率： ≤100μm0.1μm ≥100μm1.0μm
统计功能： 测试次数、较大/较小值、平均值、标准偏差
显示方式：LED数显
探针：一点接触恒压式(LEP - J，LHP - J)
外部输出： RS-232C接口(传送速度2400 bps)
尺寸、质量： 120(W)×250(D)×55(H)毫米，1000g
附件： 探头/基体/校正标准片/电池/V型块/变压器/皮套/合格证/说明书
附加功能：内置打印功能、储存统计功能、连接电脑功能(RS232标准接口)
界限设定：可设定上/下限
电源：电源AC 100V(50 / 60Hz)或电池1.5 V(单3碱)
日本KETT LZ-200J两用膜厚计配置清单：
基体x1、校正标准片x1、电池x10、皮套x1、说明书x1
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