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ATP5034/5030制冷型高分辨率光纤光谱仪采用制冷的2048或4096像素线阵探测器，适用于各种高分辨率应用场合，同时具备高可靠性、高速、低成本、高性价比等特性，可适应在线测试等各种环境用途的微型光谱仪。
ATP5034/5030制冷型高分辨率光纤光谱仪产品简介：
ATP5030/4是新开发的一款制冷型、高分辨率微型光谱仪，它采用制冷的2048或4096像素线阵探测器，达到了极致的高分辨率，*高分辨率可达0.05nm，适用于各种高分辨率应用场合，同时具备高可靠性、高速、低成本、高性价比等特性，可适应在线测试等各种环境用途的微型光谱仪。
ATP5030/4采用TEC电制冷，制冷温度-5℃。大大降低了光谱仪的暗电流和噪声，提高了光谱仪的动态范围和信噪比。
ATP5030：探测器像素2048
ATP5034：探测器像素4096
ATP5034/5030制冷型高分辨率光纤光谱仪产品特征：
探测器制冷温度：-5 ℃
内置氙灯同步触发控制电路
光谱范围: 200-1100 nm;
光谱分辨率: 0.05-2nm;
光路结构: 非交叉C-T;
检测器： 2048或4096像素;
积分时间: 0.1ms-256s;
供电电源: 直流5V USB供电;
ADC位深：16位;
ADC采样率：2MHz;
数据输出接口：USB Type-C;
30针扩展接口
ATP5034/5030制冷型高分辨率光纤光谱仪应用领域：
LIBS、等离子体发光检测;
拉曼光谱检测;
波长监测，激光、LED等发光体
水质分析仪
紫外烟气分析仪
LED分选机、颜色检测;
微量、快速分光光度计;
光谱分析、辐射分光分析、分光光度分析
反射、透射光谱检测
ATP5034/5030制冷型高分辨率光纤光谱仪技术参数：
Type | Linear array detector |
Detectable range | 200-1100 nm |
Effective pixel | 2048 or 4096 pixels |
Sensor Cooled | TEC cooled, -5 ˚C |
Pixel dimension | 14μm × 200μm |
Sensitivity | 1300 V/(lx·s) |
Dark noise | 13 RMS @ 13 ˚C |
Optical Parameter | |
Wavelength range | 200-1100 nm |
Optical resolution | 0.07-3 nm |
Signal-to-noise | >600:1 |
Dynamic range | 8.5 x 107 (system); 2000:1 for a single acquisition |
Stray light | <0.05% at 600 nm; <0.09% at 435 nm |
Working temperature | -25-50 oC |
Working humidity | < 90%RH |
Optical Configuration | |
Optical Design | Czerny-Turner |
Focal Distance | 75mm |
Incidence slit | 50 μm (10, 25, 100 um are optional) |
Incident Interface | SMA905 connector |
Electrical Parameter | |
Integration time | 0.1 ms - 256 second |
Interfaces | USB Type-C |
A/D conversion resolution | 16 bit |
Supply voltage | DC4.5 to 5.5 V (type @5V) |
Operating current | 170mA@Typ. |
Storage temperature | -30°C to +70°C |
Operating temperature | -25-50 oC |
Physics Parameter | |
Dimension | 150 × 90 × 37.5 mm |
weight | 0.5kg |
Sealing | Anti-sweat |
中科汇仪
