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美国梅特勒-托利多 MS半微量分析天平采用单模块传感器(MonoBloc)，具有显著的抗冲击、抗过载性能，
同时确保准确的称量结果。
美国梅特勒-托利多 MS半微量分析天平产品特点：
采用单模块传感器(MonoBloc)，具有显著的抗冲击、抗过载性能，同时确保准确的称量结果
采用280MIPS处理器及72MHz总线速度，确保快速获得称量结果
清晰的高对比显示屏(HCD)，轻松读取称量结果
动态图形显示(SmartTrac)，直接显示天平已使用的称量范围
多达3个功能键(SmartKeys)，可直接调用预设的称量应用程序
超大去皮键设计，便于用户的称量操作
1/10d可读性缩位功能，快速获得稳定称量结果
菜单保护功能，避免天平设置被更改
全自动校准技术(FACT)，温度漂移和时间触发确保始终获得准确的称量结果
多级数字滤波和补偿技术，优化天平在不同称量条件下的操作性能
动态温度补偿，实时修正环境温度波动对称量结果的影响
易于使用的天平自维护功能，例如：键盘测试、重复性测试等
美国梅特勒-托利多 MS半微量分析天平技术参数：
MS105 | MS105DU | MS205DU | |
可读性 | 0.01mg | 0.01mg/0.1mg | 0.01mg/0.1mg |
最大称量值 | 120g | 42g/120g | 82g/220g |
重复性(sd) | 0.04mg | 0.02mg/0.08mg | 0.02mg/0.08mg |
线性误差 | 0.1mg | 0.15mg | 0.2mg |
秤盘尺寸[mm] | Φ80 | Φ80 | Φ80 |
秤盘上方有效高度[mm] | 225 | 225 | 225 |
中科汇仪
